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 半导体制造/WAFER FAB >> 膜厚测试仪

 

 全自动 Cassette-to-Cassette膜厚测试仪

 

 

产品简介:
可进行膜厚的自动化测量,全自动装载操作,使用极其方便,适用于工业级大批量生产,测试样品的尺寸从4英寸~12 英寸。

 

 

点击数:735  录入时间:2013/8/17 【打印此页】 【返回
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